西迪斯开发出超小型高精度的高Q石英谐振器416F26035ATR,无源石英晶振

凭借西迪斯公司在设计和制造精密石英晶体和振荡器方面的丰富经验，我们对所有晶体进行严格的测试和预处理，然后将其插入最终振荡器中。

CTS晶振公司的测试包括谐振腔角度测量和校正，DLD(驱动电平依赖)，温度测试，精细和总泄漏。

在关闭期间，谐振腔处于比振荡(运动)时更低的能态。在这种较低的能态下，谐振腔将倾向于吸附气体分子。当振荡器重新启动时，气体分子会慢慢解吸，晶体会恢复到高能量状态。西迪斯开发出超小型高精度的高Q石英谐振器416F26035ATR,无源石英晶振

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当石英晶体谐振器被重新加热到一个升高的温度，热量严格地通过机械支架传导到晶体板。由于外壳内部的高真空消除了对流加热，通过机械支架加热在整个谐振器中施加热梯度(应力)。

热冲击可能会影响不可逆因素，包括制造松弛和安装应力，尽管这些通常可以通过预先的温度循环消除。

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当烘箱升温时，由于快速的热变化而引起的谐振腔内的应力是烘箱温度变化率和晶体结构的函数。因此，在给定的设计中，应力可以保持可重复性。由于非振荡的气体吸附是关闭时间和可用污染物水平的函数。因此，这种影响预计会在更长的关闭时间和更高的污染物水平中增加。

当质量分布达到平衡，应力停止变化或完全消除时，渐进衰减老化将停止。

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回溯(迟滞)是一个术语，用来描述振荡器在断电一段时间后恢复到原始频率精度的情况。引起这些影响的机制包括谐振器安装结构的应变变化，石英的变化，振荡器电路的变化，污染在晶体外壳中的再分布，以及由于热梯度[1]造成的明显滞后或折返。

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416F27111AKR	CTS晶振	416	MHz Crystal	27.12MHz
416F27111ALR	CTS晶振	416	MHz Crystal	27.12MHz
416F27111ASR	CTS晶振	416	MHz Crystal	27.12MHz
416F27111ATR	CTS晶振	416	MHz Crystal	27.12MHz
416F27111CAR	CTS晶振	416	MHz Crystal	27.12MHz
416F27111CDR	CTS晶振	416	MHz Crystal	27.12MHz
416F27111CKR	CTS晶振	416	MHz Crystal	27.12MHz
416F27111CLR	CTS晶振	416	MHz Crystal	27.12MHz
416F27111CSR	CTS晶振	416	MHz Crystal	27.12MHz
416F27111CTR	CTS晶振	416	MHz Crystal	27.12MHz
416F27112AAR	CTS晶振	416	MHz Crystal	27.12MHz
416F27112ADR	CTS晶振	416	MHz Crystal	27.12MHz
416F27112AKR	CTS晶振	416	MHz Crystal	27.12MHz
416F27112ALR	CTS晶振	416	MHz Crystal	27.12MHz
416F27112ASR	CTS晶振	416	MHz Crystal	27.12MHz
416F27112ATR	CTS晶振	416	MHz Crystal	27.12MHz
416F27112CAR	CTS晶振	416	MHz Crystal	27.12MHz
416F27112CDR	CTS晶振	416	MHz Crystal	27.12MHz
416F27112CKR	CTS晶振	416	MHz Crystal	27.12MHz

对于石英晶体振荡器来说，要实现其最终的老化速率和频率精度，理想的应用是设备将保持连续供电。如果电源中断是不可避免的，由于重新老化和折返，振荡器不会立即恢复到原来的频率，也不太可能恢复到完全相同的频率。

西迪斯预处理过程包括活性老化，高温烘烤，和热循环减少在振荡器装配前的应力。此外，CTS ocxo是预先条件与热循环和老化/老化，频率连续监测和分级，以确保老化的符合性。西迪斯开发出超小型高精度的高Q石英谐振器416F26035ATR,无源石英晶振