主要用于电信的LVPECL和LVDS晶振IQXO-623/IQXO-624/IQXO-618

IQD晶振推出了新系列的LVPECL(IQXO-623/IQXO-624)和LVDS(IQXO-618)输出时钟振荡器,相位抖动小于1psrms(超过12kHz至20MHz),无论指定哪种输出.这些新型号采用密封的小体积尺寸3.2x2.5x1.1mm，陶瓷6焊盘封装,频率范围为13.5MHz至156.25MHz.IQXO-618,IQXO-623和IQXO-624主要用于以太网(10G/40G),光纤通道和SONET/SDH等应用.
新型石英晶体振荡器提供2.5V或3.3V电压,在-40℃至85℃的工作温度范围内具有±30ppm的频率稳定性.IQXO-618,IQXO-623和IQXO-624具有最大电流消耗50mA,上升和下降时间最长1ms,并在引脚1上包含一个启用/禁用功能作为标准.

主要用于电信的LVPECL和LVDS晶振IQXO-623/IQXO-624/IQXO-618

石英晶振环境参数：
储存温度范围:-55至125℃
跌落试验(JIS-C0044):在试验前测量样品的频率.然后,它以自由落体的形式从100厘米分钟的高度掉落到厚度为30毫米分钟的坚硬木板上.
振动(MIL-STD-883F:2007.3):测试前测量样品的频率.在X,Y和Z轴上进行振动测试.频率范围:20~2000赫兹,峰间振幅:1.52毫米,峰值加速度:20G,扫描时间:20分钟/轴,平均总测试时间:4小时.
低温暴露(JIS-C0020):测试前测量样品的频率.将设备暴露在-40°C±3°C下168±6小时.室温放置1~2小时后测量电气性能.
老化试验(JIS-C0021):在试验前测量样品的频率.将器件暴露在+125°C±3°C下720±48小时.室温放置1~2小时后测量电气性能.
高温和高湿度(MIL-STD-883F:1004.7):测试前测量样品的频率.将设备暴露在+85°C±5°C和85±5%湿度下168±6小时.室温放置1~2小时后测量电气性能.
温度循环试验(MIL-STD-883F:1010.8):在试验前测量样品的频率.将设备暴露于100个周期:
低温:-55°C±3°C持续15±3分钟升温至高温:2-3分钟
高温:+125°C±3°C持续15±3分钟,缓降至低温:2-3分钟
室温放置1~2小时后测量电气性能

主要用于电信的LVPECL和LVDS晶振IQXO-623/IQXO-624/IQXO-618

技术合作伙伴：
IQD是Statek Corporation高度专业化的基于光刻工艺的石英晶体，晶体振荡器和传感器的全球授权分销商，提供非常高的环境性能，特别适用于军事，航空和“井下”应用。
作为Rakon的前任部门，IQD与全球渠道合作伙伴保持着密切的合作伙伴关系，为我们自己的产品系列提供Rakon的专业高性能振荡器。Rakon世界领先的定时解决方案特别拉康新适用于电信和网络基础设施，GPS定位和卫星应用中的同步连接。